Tescan Analytics

Tescan Analytics

https://www.tescan-analytics.com/fr/

Types de prestations

  • Conseil, expertise, formation
  • Recherche et développement
  • Caractérisation, essais, tests contrôle, formulation
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Secteurs d'applications

  • Agriculture et agroalimentaire
  • BTP, Construction
  • Edition, Imprimerie
  • Electronique, Télécommunications
  • Energie
  • Environnement
  • Informatique, TIC
  • Mécanique
  • Santé, Pharmacie, Bio industrie
  • Transports
  • Aéronautique, Spatial, Défense
  • Chimie
  • Matériaux
  • Textile, confection, cuir
  • Papier, carton

Tescan Analytics (anciennement Biophy Research) est spécialisée en analyse de surfaces de produits industriels avec comme objectif le développement de matériaux pour lesquels les propriétés physiques et chimiques de surfaces et d’interfaces constituent une des principales valeurs ajoutées.
Parmi les sujets traités : propreté et contamination de surface, traitements de surface (plasma), fictionnalisation chimique, dépôts de couches minces, mouillabilité, adhésion, biocompatibilité, collage, impression, perméation, corrosion, analyse de défaillance, analyse de poudres et de nanoparticules dans le domaine des polymères, textiles, biomatériaux, semi-conducteurs, métaux, verres et céramiques, papiers, emballages et produits cosmétiques.

Applications

  • Mise au point de traitement plasma à la pression atmosphérique pour la fonctionnalisation de films polymères – PolyPropylène, PolyEster, PolyAmide – en vue d’améliorer leurs propriétés de mouillabilité, d’adhésion, d’impression et de collage
  • Développement instrumental et méthodologique en analyse de surfaces
  • Développement d’un logiciel de traitement de données Tof SIMS (MULTI-ION SIMS®).

Exemples concrets d'applications

  • Optimisation du traitement plasma à pression atmosphérique du PolyPropylène – composition des gaz plasmagènes, puissance, vitesse de défilé – par corrélation avec les taux de greffage en surface d’azote et de fonctions amines, l’énergie de surface et le vieillissement analysé par XPS, AFM, ToF SIMS, angle de contact, et test d’adhésion
  • Développement d’un module d’étirement couplé à un microscope à force atomique pour l’étude et la modélisation du comportement sous contrainte mécanique de l’interface « couche mince’/polymère : étude in situ de l’apparition et de l’évolution des fissures dans des couches barrières (aluminium / SiOx) déposées sur polymère
  • Production de MULTI-ION SIMS®, un logiciel d’interprétation de données Tof SIMS (analyse quantitative, profils, imagerie) par méthodes multivariables chimiométriques : ACP, PCR, PLS.

Equipements

  • µ XPS,
  • imagerie ToF SIMS,
  • AFM multi mode,
  • angles de contact,
  • FTIR,
  • perméation à l’oxygène, et vapeur d’eau et aussi,
  • µ Auger,
  • D-SIMS,
  • microscope confocal Raman,
  • TEM,
  • FESEM ( +EDX),
  • FIB,
  • cryo-microtomie.